- 氧氮?dú)涮剂虻仍胤治鰞x
- 光譜儀,光度計(jì),光譜分析儀
- 金相顯微制樣檢驗(yàn)分析儀
- 拉力機(jī),硬度計(jì)等材料試驗(yàn)機(jī)
- 工業(yè)顯微鏡及光學(xué)測(cè)量裝置
- 三坐標(biāo),影像儀等形貌測(cè)量?jī)x
- 熱分析儀,量熱儀
- 質(zhì)譜儀及各類(lèi)聯(lián)用儀
- 行業(yè)檢測(cè)儀器
- 制樣及前處理設(shè)備
- 配件耗材及配套產(chǎn)品
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER是材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)，分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER可以使用戶(hù)非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量(XRR)、高分辨測(cè)量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
詳情介紹：
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER簡(jiǎn)介：
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動(dòng)識(shí)別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶(hù)可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量(XRR)、高分辨測(cè)量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點(diǎn)：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對(duì)于所有的薄膜應(yīng)用研究來(lái)說(shuō)都是非常必要的。
整個(gè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)都基于簡(jiǎn)單易行和故障保護(hù)的理念之上。像機(jī)械減震器這樣的工具允許在無(wú)用戶(hù)介入的情況下進(jìn)行全自動(dòng)操作。
可以根據(jù)不同樣品和具體應(yīng)用的需要從大量高性能的光學(xué)配件中進(jìn)行選擇，從而達(dá)到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺(tái)和各種不同類(lèi)型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進(jìn)行殘余應(yīng)力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對(duì)鍍層或者半導(dǎo)體進(jìn)行研究時(shí)甚至還可以利用專(zhuān)用的樣品臺(tái)進(jìn)行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級(jí)掠射入射衍射)對(duì)納米層進(jìn)行研究還是利用V?NTEC-1檢測(cè)器對(duì)倒易空間測(cè)繪進(jìn)行研究都可以**在*短的時(shí)間內(nèi)完成任務(wù)。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進(jìn)行各種分析測(cè)試時(shí)向用戶(hù)提供*直觀的圖像，同時(shí)智能腳本負(fù)責(zé)常規(guī)性工作。評(píng)估計(jì)算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶(hù)處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應(yīng)用：
晶格錯(cuò)配
組份
應(yīng)變及弛豫過(guò)程
橫向結(jié)構(gòu)
鑲嵌度
薄膜厚度
組份
粗造度
密度
孔隙度
晶格錯(cuò)配
組份
取向
弛豫
橫向結(jié)構(gòu)
晶胞參數(shù)
晶格錯(cuò)配
橫向關(guān)聯(lián)性
取向
物相組成
孔隙度
取向定量
應(yīng)變
外延關(guān)聯(lián)
硬度
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對(duì)稱(chēng)性
晶粒大小
D8 DISCOVER是配備了諸多黑科技的多功能衍射儀系統(tǒng)。分析樣品從粉末，多晶材料到單晶外延膜樣品。布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的**X射線衍射系統(tǒng)。X射線衍射儀D8 DISCOVER采用**性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動(dòng)識(shí)別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶(hù)可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量(XRR)、高分辨測(cè)量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER特點(diǎn)：
第三代G?bel 鏡可以提供高通量X射線——這對(duì)于所有的薄膜應(yīng)用研究來(lái)說(shuō)都是非常必要的。
整個(gè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)都基于簡(jiǎn)單易行和故障保護(hù)的理念之上。像機(jī)械減震器這樣的工具允許在無(wú)用戶(hù)介入的情況下進(jìn)行全自動(dòng)操作。
可以根據(jù)不同樣品和具體應(yīng)用的需要從大量高性能的光學(xué)配件中進(jìn)行選擇，從而達(dá)到的分辨率。
X射線衍射儀D8 DISCOVER采用新型UMC載物臺(tái)和各種不同類(lèi)型的尤拉環(huán)可以組合成**的樣品承載系統(tǒng)，非常適于進(jìn)行殘余應(yīng)力、織構(gòu)和微區(qū)衍射分析。在用X射線反射法對(duì)鍍層或者半導(dǎo)體進(jìn)行研究時(shí)甚至還可以利用專(zhuān)用的樣品臺(tái)進(jìn)行變溫研究。
不論是利用UltraGID(*級(jí)掠射入射衍射)對(duì)納米層進(jìn)行研究還是利用V?NTEC-1檢測(cè)器對(duì)倒易空間測(cè)繪進(jìn)行研究都可以**在*短的時(shí)間內(nèi)完成任務(wù)。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在進(jìn)行各種分析測(cè)試時(shí)向用戶(hù)提供*直觀的圖像，同時(shí)智能腳本負(fù)責(zé)常規(guī)性工作。評(píng)估計(jì)算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用戶(hù)處于科技的前沿。
布魯克多功能衍射儀_材料研究XRD_X射線衍射儀D8 DISCOVER主要應(yīng)用：
- 高分辨XRD(HRXRD)
外延多層膜厚度
晶胞參數(shù)晶格錯(cuò)配
組份
應(yīng)變及弛豫過(guò)程
橫向結(jié)構(gòu)
鑲嵌度
- X射線反射率(XRR)
組份
粗造度
密度
孔隙度
- 倒易空間圖譜(RSM)
晶格錯(cuò)配
組份
取向
弛豫
橫向結(jié)構(gòu)
- 面內(nèi)掠入射衍射 (in-plane GID)
晶胞參數(shù)
晶格錯(cuò)配
橫向關(guān)聯(lián)性
取向
物相組成
孔隙度
- 應(yīng)力和織構(gòu)分析
取向定量
應(yīng)變
外延關(guān)聯(lián)
硬度
- 物相鑒定(Phase ID)
d值確定
擇優(yōu)取向
晶格對(duì)稱(chēng)性
晶粒大小
